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高い構成ゲートの電子普遍的な試験機、非破壊的な試験装置

高い構成ゲートの電子普遍的な試験機、非破壊的な試験装置

High Configuration Gate Electronic Universal Testing Machine, Non Destructive Testing Equipment

商品の詳細:

起源の場所: 中国
ブランド名: MITECH
証明: ISO CE GOST
モデル番号: MDW-E

お支払配送条件:

最小注文数量: 1 セット
パッケージの詳細: 標準的な輸出カートン箱
受渡し時間: 在庫の商品は 3 日以内に、送り出すことができます
支払条件: 100% T/T、Paypal または Wester 連合
供給の能力: 500 セット/月
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詳細製品概要

高い構成ゲートの電子普遍的な試験機、非破壊的な試験装置

 

MDW-E のマイクロコンピューター制御電子普遍的な試験機(高い構成ゲートのタイプ)

 

記述:

シリーズ MDW-E マイクロコンピューター制御電子普遍的な試験機はゴム、プラスチック、織物、防水材料、ケーブル、ネットワーク ワイヤー、金属線、金棒、金属板のような材料の抗張テストのために適当および他です。 用具を付けることを使うと、それはまた圧縮および折り曲げ試験をすることができます。

 

適用:

自動口径測定: システムは自動的に表示された価値の標準の口径測定を達成できます。

大きい液晶の displayer は試験プロセス中の実時間テスト力、ピーク値、変位、速度、状態、等を表示します。

判断の破損: 標本が壊れているとき、自動的にテストを停止するためにビームを動かして下さい。

限界の保護: それに機械および制御限界の保護があります

 

指定:

主要な技術的な変数

MDW-E

10

20

50

100

200

300

構造形態

 床のタイプ

最高のテスト力(KN)

10

20

50

100

200

300

操作モード

マイクロコンピューター制御(中国ソフトウェア操作)

力の測定範囲

2%-100% の最高のテスト力(0.4%-100%)

テスト力の示された価値の相対誤差

よくして下さい ±1%of より示された価値(or±0.5% の特別な選択)を

変形の表示の間違い

±1% (or±0.5%)

テスト力の最低の決断

0.01N

ビーム変位の精密

±1% (±0.5%)

変形の正確さ

よくして下さいより ±1% (任意 ±0.5%)

支配の範囲を促進して下さい

0.01-200mm

テスト旅行

700 以下の mm (顧客の必要性に従ってカスタマイズすることができます)

メカニズムを調節するテスト スペース

サーボ モーター、ドライブとの同時性

出現

GB/T2611 によって

保護機能

積み過ぎの保護、限界の保護。

電源

220 ボルト

重量(おおよそ kg)

400

500

600

1300

2000 年

作動条件

周囲温度 -35°C の湿気 20% - 80%

クランプ形態

適したクランプは顧客の要求に従って形成されます。 特別なクランプは顧客のためにカスタマイズすることができます。

 

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